spc控制圖中的pnpuc圖的區別

時間 2021-10-22 06:23:19

1樓:匿名使用者

您所說的四種控制圖都屬於計數型控制圖。

p 是不合格率,結果是百分比

np 是不合格的工件數目,結果是數值

c 是樣本內的缺陷總數目,結果是數值

u 是單位產品上的缺陷數目,結果是數值

2樓:匿名使用者

覺得之前回答的人可能還沒有樓主思路清晰。

個人認為:

p和np圖主要關注的是產品的質量狀態,實際點說就是我每次都生產n件,n是不定值的時候,統計每次的廢品數量,生成不合格品率,連續記錄多天,就是p圖了,但是因為n不定,所以p只能以百分比的形式產生。

n是定值的時候,統計每次的廢品數量,連續記錄多次廢品的數量,就是np圖。

p和np主要作用是關注廢品情況,統計合格品,財務核算內部質量損失等。

c和u圖。 關注的是產品的不合格,瑕疵。用於發現和改善實際點就是每次取一組固定數量的產品,記錄它所有的不合格和瑕疵。可能不合格數值會大於產品數,進行統計,就是c圖。

u圖同理,只是取不固定數量的產品。

水平有限,個人理解,不對之處歡迎指正。

spc中,p圖和u圖有什麼區別

3樓:吧

這兩個圖只是不同應用場合的表現形式而已:

p圖(用於可變樣本量的不合格品率)。常見的不良率有不合格品率、廢品率、交貨延遲率、缺勤率、差錯率等等。p圖是一種計數型控制圖,它繪製的是每個樣本的不合格品率。

每個分組樣本可以有相同的樣本量或者不相同的樣本量。

u圖(用於可變樣本量的單位缺陷數)。u圖是一種計數型控制圖,它繪製的是每個樣本中的單位平均缺陷數,即描述了樣本數變化時每個單元的缺陷數。

這裡要注意不合格數和缺陷數的區別,不合格品數是針對樣本本身來說的;缺陷數是針對樣本內部的,說明樣本的符合性,而不是針對樣本本身。

擴充套件資料:

spc統計過程控制(statistical process control)是一種借助數理統計方法的過程控制工具。它對生產過程進行分析評價,根據反饋資訊及時發現系統性因素出現的徵兆,並採取措施消除其影響,使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態,以達到控制質量的目的。

技術原理:

利用統計的方法來監控過程的狀態,確定生產過程在管制的狀態下,以降低產品品質的變異。

統計過程控制(簡稱spc)是一種借助數理統計方法的過程控制工具。它對生產過程進行分析評價,根據反饋資訊及時發現系統性因素出現的徵兆,並採取措施消除其影響,使過程維持在僅受隨機性因素影響的受控狀態,以達到控制質量的目的。

它認為,當過程僅受隨機因素影響時,過程處於統計控制狀態(簡稱受控狀態);當過程中存在系統因素的影響時,過程處於統計失控狀態(簡稱失控狀態)。

由於過程波動具有統計規律性,當過程受控時,過程特性一般服從穩定的隨機分布;而失控時,過程分布將發生改變。spc正是利用過程波動的統計規律性對過程進行分析控制。

因而,它強調過程在受控和有能力的狀態下執行,從而使產品和服務穩定地滿足顧客的要求。

實施spc的過程一般分為兩大步驟:首先用spc工具對過程進行分析,如繪製分析用控制圖等;

根據分析結果採取必要措施:可能需要消除過程中的系統性因素,也可能需要管理層的介入來減小過程的隨機波動以滿足過程能力的需求。第二步則是用控制圖對過程進行監控。

控制圖是spc中最重要的工具。目前在實際中大量運用的是基於shewhart原理的傳統控制圖,但控制圖不僅限於此。

近年來又逐步發展了一些先進的控制工具,如對小波動進行監控的ewma和cusum控制圖,對小批量多品種生產過程進行控制的比例控制圖和目標控制圖;對多重質量特性進行控制的控制圖。

4樓:匿名使用者

在spc中,p圖和u圖都是適用於計數型資料和管制圖。p chart是不良率管制圖,u chart是單位缺點數管制圖。p圖關心的是不合格率,如果樣本容量恆定,可以用np圖或p圖,不恆定則用p圖。

而u圖關心的是不合格數,如果樣本容量恆定,可以用c圖或u圖,不恆定則用u圖。p圖是用來測量在一批檢驗專案中不合格品(缺陷)專案的百分數,而u圖用來測量具有不同的樣本(受檢材料的量不同)的子組內每檢驗單位產品之內的不合格數量。

spc控制圖的種類

5樓:斛善靜

資料:是能夠客觀地反映事實的資料和數字資料的質量特性值分為:

計量值可以用量具、儀表等進行測量而得出的連續性數值,可以出現小數。

計數值不能用量具、儀表來度量的非連續性的正整數值。

計量型資料的控制圖

xbar-r圖(均值-極差圖)

xbar-s圖(均值-標準差圖)

x-mr圖(單值-移動極差圖)

x-r(中位數圖)

計數型資料的控制圖

p圖(不合格品率圖)

np圖(不合格品數圖)

c圖(不合格數圖)

u圖(單位產品不合格數圖)

spc控制圖中的p、np、u、c的區別是什麼意思?

6樓:匿名使用者

您所說的四種控制圖都屬於計數型控制圖。

p 是不合格率,結果是百分比

np 是不合格的工件數目,結果是數值

c 是樣本內的缺陷總數目,結果是數值

u 是單位產品上的缺陷數目,結果是數值

如何區分spc控制圖中規格上下限與管制上下限

7樓:暢聞凝

控制限是用製程資料計算出來的,    不同的資料得出的控制上下限是不一樣。如果是xbar-r均值極差圖,那麼控制上下限的公式如下:

uclxbar=x``+a2*r`    x``是全體資料的均值,a2是常數,r`是極差平均值

lclxbar=x``-a2*r`

控制圖p圖里計算後呈現出來的都是管制上下限,而控制限和規格限具有包含、相交和背離的三種情況。

擴充套件資料:

簡介分類

spc控制圖是對過程質量加以測定、記錄從而進行控制管理的一種用科學方法設計的圖。2023年由沃特·休哈特(walter shewhart)博士率先提出。

其指出:每乙個方法都存在著變異,都受到時間和空間的影響,即使在理想的條件下獲得的一組分析結果,也會存在一定的隨機誤差。

但當某乙個結果超出了隨機誤差的允許範圍時,運用數理統計的方法,可以判斷這個結果是異常的、不足信的。

問世數十年來,質量控制圖在眾多現代化工廠中得到了普遍應用,並憑藉其強大的分析功能,為工廠帶來豐厚的實時收益。最初的控制圖分為計量型與計數型兩大類,包含七種基本圖表。

計量型控制圖包括:

ix-mr(單值移動極差圖)

xbar-r(均值極差圖)

xbar-s(均值標準差圖)

計數型控制圖包括:

p(用於可變樣本量的不合格品率)

np(用於固定樣本量的不合格品數)

u(用於可變樣本量的單位缺陷數)

c(用於固定樣本量的缺陷數)

8樓:

控制圖p圖里計算後呈現出來的都是管制上下限,而控制限和規格限具有包含、相交和背離的三種情況,如果控制上下限包含了規格上下限,說明你的過程能力不足,需要進一步的改進,以上建議僅供參考,如果需要再細緻的溝通,可在知道上聯絡!

9樓:匿名使用者

控制圖p圖里的上下限是規格上下限還是管制上下限呢?是管制上下限!

控制上下限可以超出規格上下限嗎?管制上下限肯定比規格上下限要求嚴格,即控制限更窄!不然做spc批用?

請問spc中的控制用控制圖和分析用控制圖有什麼區別?

10樓:小寶

分析用控制圖是用於計算過程的控制限及檢視過程的穩定性。一般要求連續抽取不少於25個子組的資料來判斷過程的穩定情況,如果過程是受控的,就可以把這個控制限延長,作為這個過程的控制限正式使用了。分析階段完成後,只要5m1e沒有變化,控制限是不能隨便更改的,這個時候的控制圖就是控制用控制圖。

11樓:

分析用控制圖和控制用控制圖區別主要有5個方面:

1、製作時機不同:初始過程研究時用分析用控制圖;日常過程控制用控制用控制圖。

2、使用者不同:管理者用分析用控制圖;操作者用控制用控制圖。

3、方式不同:分析用控制圖先採集資料,畫控制限;控制用控制圖沿用控制限,然後描點。

4、作用不同:分析用控制圖對過程進行研究,了解過程的穩定性和能力,是對過程的事後了解;

控制用控制圖對過程進行控制,保持過程的穩定,是對過程的事前控制。

5、預防性不同:分析用控制圖沒有預防性;控制用控制圖有預防作用。

如何區分SPC控制圖中規格上下限與管制上下限

暢聞凝 控制限是用製程資料計算出來的,不同的資料得出的控制上下限是不一樣。如果是xbar r均值極差圖,那麼控制上下限的公式如下 uclxbar x a2 r x 是全體資料的均值,a2是常數,r 是極差平均值 lclxbar x a2 r 控制圖p圖里計算後呈現出來的都是管制上下限,而控制限和規格...

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