1樓：山蕭玉墨柳
1、eds是針對一些元素的含量進行測試，xrd是測試晶體結構的。
2、edsenergy
dispersive
spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃瞄電子顯微鏡。
或透射電鏡相連的裝置。在微公尺或奈米尺度上對掃瞄電鏡。
或透射電鏡內通過電子碰撞所產生的x射線的能量進行測量來確定物質化學成分。分析範圍：4-100號元素定性定量分析。
特點：1）能快速、同時對各種試樣的微區內be-u的所有元素，元素定性、定量分析，幾分鐘即可完成。
2）對試樣與探測器的幾何位置要求低：對的要求不是很嚴格；可以在低倍率下獲得x射線掃瞄、面分布結果。
3）能譜所需探針電流小：對電子束照射後易損傷的試樣，例如生物試樣、快離子導體試樣、玻璃等損傷小。
4）檢測限。
一般為，中等原子序數。
的無重疊峰主元素的定量相誤差約為2%。
3、xrd，x射線衍射。
是測定晶體結構的。x射線衍射，通過對材料進行x射線衍射，分析其衍射圖譜，分析材料的成分等。
2樓：謇亦巧迮苗
sem：材料的表面形貌，形貌特徵。配合edx可以獲得材料的元素組成資訊。
tem：材料的表面形貌，結晶性。配合edx可以獲得材料的元素組成。
ftir：主要用於測試高分子有機材料，確定不同高分子鍵的存在，確定材料的結構。如單鍵，雙鍵等等。
raman：通過測定轉動能及和振動能及，用來測定材料的結構。
cv：cv曲線可以測試得到很多資訊，比如所需電沉積電壓，電流，以及半導體行業可以得到直流偏壓。
bet：主要是測試材料比表面積的，可以得到材料的比表面積資訊。
xrd：主要是測試材料的物性，晶型的。高階的xrd還可以測試材料不同晶型的組分。
質譜：主要用於鑑定材料的化學成分，包括液相質譜，氣象質譜。
xrd與eds有什麼區別？求大神
3樓：丿神話灬王沉
sem，eds，xrd的區別，sem是掃瞄電鏡，eds是掃瞄電鏡上配搭的乙個用於微區分析成分的配件——能譜儀，是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃瞄電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。xrd是x射線衍射儀，是用於物相分析的檢測裝置。
sem用於觀察標本的表面結構，其工作原理是用一束極細的電子束掃瞄樣品，在樣品表面激發出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣 品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，並在那裡被閃爍器轉變為光訊號，再經光電倍增管和放大器轉變為電訊號來控制螢光屏上電子束的強度，顯示出與電子束同步的掃瞄影象。影象為立體形象，反映了標本的表面結構。
eds的原理是各種元素具有自己的x射線特徵波長，特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△e，能譜儀就是利用不同元素x射線光子特徵能量不同這一特點來進行成分分析的。
xrd是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。
說簡單點，sem是用來看微觀形貌的，觀察表面的形態、斷口、微裂紋等等；eds則是檢測元素及其分佈，但是h元素不能檢測；xrd觀察的是組織結構，可以測各個相的比例、晶體結構等。
「或者和及」的區別，和與及的區別
和與或的區別 和是並列的連詞,表示a和b一起 或是選擇的連詞,表示a或者b其中乙個 付費內容限時免費檢視 回答親，你好，很高興為你解答 意思一樣，或者 語氣更舒緩，前面更常加逗號。在有多層 和 或 邏輯巢狀的時候，可能用 或 表示內層運算，或者 表示外層運算，但這種用法是 ad hoc 的，沒有共識...
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