電鍍層厚度如何測量?銅基鎳鍍層,除螢光光譜儀 電解測厚儀外有沒有其它儀器可測量

時間 2022-02-05 13:15:07

1樓:匿名使用者

有一種x光射線的測厚儀

德國compact eco x-射線螢光分析測厚儀

compact eco x-射線螢光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單效能優越,而且價錢超值.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首選.

備有compact eco , compact 5 , mixx4 , mixx5等型號選擇,可測量各類金屬層、合金層厚度,附帶功能:合金成份分析,電鍍液成份分析,中文簡體、繁體、英文作業系統。

可測元素範圍:

鈦(ti) – 鈾(u)

可測量厚度範圍:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

自動測量功能:程式設計測量,自定測量

修正測量功能:底材修正,已知樣品修正

定性分析功能:光譜表示,光譜比較

定量分析功能:合金成份分析

資料統計功能:x管理圖,x-r管理圖,直方柱圖。

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析三層厚度,獨有的fp分析軟體,真正做到無厚度標準片亦能進行準確測量(需要配合純材料),為您大大節省購買標準片的成本.完全超越其他品牌的所謂fp軟體.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,並可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.

南韓micro pioneer xrf-2000 系列螢光金屬鍍層測厚儀

micro pioneer xrf-2000 系列螢光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單效能優越,而且價錢超值.只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動xyz樣品臺,雷射自動對焦系統,十字線自動調整.

超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業的首選.可測量各類金屬層、合金層厚度.

可測元素範圍:

鈦(ti) – 鈾(u)

可測量厚度範圍:

原子序22-25,0.1-0.8μm

26-40,0.05-35μm

43-52,0.1-100μm

72-82,0.05-5μm

x-射線管:油冷,超微細對焦

高壓:0-50kv(程式控制)

準直器:

固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1x0.4mm

自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05x0.4mm

電腦系統:ibm相容,17」顯示器

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,並可定量分析成分含量.

光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.

統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.

2樓:匿名使用者

銅基鎳鍍層厚度一般在日常工作中用金相分析儀測量.就是我們俗話說的切片.

3樓:匿名使用者

塗層測厚儀

——塗層測厚儀是測量各種金屬材料上的油漆層、氧化層、鍍層等。

磁性測厚儀的工作原理:當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由於非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可匯出覆蓋層的厚度。

渦流測厚儀的工作原理:高頻交流訊號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。

這個反饋作用量表徵了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電複層厚度的大小。

塗層測厚儀

——塗層測厚儀是測量各種金屬材料上的油漆層、氧化層、鍍層等。

磁性測厚儀的工作原理:當測頭與覆蓋層接觸時,測頭和磁性金屬基體構成一閉合磁路,由於非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可匯出覆蓋層的厚度。

渦流測厚儀的工作原理:高頻交流訊號在測頭線圈中產生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。

這個反饋作用量表徵了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電複層厚度的大小。

4樓:暴力鳥傳奇

現在剛出來一款進口的捷克諾頓k6c配ph探頭,專門無損測量金屬基體上鍍鎳層,我們廠子買了3臺,挺準的,希望我的建議對您有用

5樓:匿名使用者

超聲波測厚儀測量肯定更好了!

怎樣才能測算電鍍層的厚度是多少

6樓:匿名使用者

最準確的是電解法或者用光譜儀測量。

電解化學法太慢,最快也要半小時。

光譜儀造價昂貴,攜帶不方便。

基材厚度0.5mm以上的鍍層可以用中科朴道的pd-ct2 plus塗層測厚儀,我們鍍鋅板28g/㎡(雙面)顯示2.0μm,14g/㎡(單面),可以說非常準,非常方便。

鍍鋅層的密度一般在7.04-7.14g/cm³,儀器內建是鋅層密度可以調節。

電鍍層的厚度測算:鍍鋅層重量(雙面)➗2➗鋅層密度=厚度比如60克鍍鋅板,密度用純鋅密度7.04g/cm³(鋅層具體密度廠家一般會標出),厚度是:

(60g/㎡ ➗2)➗7.04g/cm³=4.26μm,塗層測厚儀最大解析度是0.

1μm,顯示示值為四捨五入的4.3μm,重量為31g。

7樓:匿名使用者

中科朴道的pd-ct2 plus塗層測厚儀,可以測量電鍍層厚度和重量,誤差低至0.2μm

8樓:

測量電鍍層,有很多種測厚儀可選,主要看您低材是什麼基體,測量什麼電鍍層。

如果是鍍鎳層,目前只有捷克諾頓k6-c測厚儀,可以無損數顯測量鍍鎳層,鎳磷一樣可以測量。

x螢光光譜儀如何設定測試鍍層厚度

9樓:qq號

理論上講x螢光光譜儀是具備測試鍍層厚度功能的。因為測鍍層首先要有製造商開發的軟體支援才可以完成,這種技術也是一項比較複雜的技術,所以並不是每家生產的x螢光光譜儀都可以測的,即便有些廠家可以測,但也不一定能測好。如果你已經購買了儀器,沒有廠家的支援,自己是無法設定的。

我司從事此行業20多年,是國內技術比較成熟的生產廠家。

10樓:匿名使用者

元素分析範圍從硫(s)到鈾(u)。

一次可同時分析最多24個元素,五層鍍層。

分析檢出限可達2ppm,最薄可測試0.005μm。

分析含量一般為2ppm到99.9% 。

鍍層厚度一般在50μm以內(每種材料有所不同)任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變數非線性**程式

多次測量重複性可達0.1%

長期工作穩定性可達0.1%

度適應範圍為15℃至30℃。

電源: 交流220v±5v, 建議配置交流淨化穩壓電源。

外觀尺寸: 576(w)×495(d)×545(h) mm樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h) mm重量:

90kg精密二維移動樣品平台,探測器和x光管上下可動,實現三維移動

11樓:

樓上的是正解,你要表達的應該是x螢光測厚儀,你想測的厚度看要求是什麼精度,是不是要用到這麼高的精度,只有到奈米級別的才用的到,要是測量到微公尺的話,只要用普通的塗層測厚儀就可以了,希望能幫到你。

12樓:美信檢測

塗鍍層檢測

目的:檢查塗覆、電鍍、化學鍍所形成鍍層厚度及其鍍層均勻性塗/鍍層產品來料厚度檢驗

方法:截面法(仲裁方法)

x射線螢光膜厚法

依據標準:

截面法:gb/t 6462-2005,astm b 487-85(2002), astm b748-1990(2010)

x射線螢光膜厚法:astm b 568-98,gb/t 16921-2005,iso 3497

x射線螢光膜厚法的測試結果會存在一定誤差,如果追求精確資料,推薦截面法。

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